存储芯片直接决定智能设备的数据运行安全，因此我们建立独立完整的芯片测试中心，配套自研自动化测试机台，搭建覆盖功能、性能、可靠性三大维度的全流程检测体系，所有出厂芯片均经过全套标准化检测，杜绝不良品流入市场。

测试流程分为三层检验标准：基础功能检测完成芯片读写、存储、休眠唤醒等基础功能全遍历，筛选短路、读写失效等基础缺陷；性能检测核验芯片带宽、响应速度、功耗数值，确保产品参数与设计标准完全一致；可靠性检测复刻设备真实使用工况，包含高低温循环、长时间通电老化、电磁干扰、震动耐久等专项测试，针对车载、工控产品额外加测车规、工规级严苛验证项目。

车间执行 “单片全检 + 批次抽检” 双重管控模式，每一批次产品的测试数据、不良处理记录统一归档留存，建立完整产品溯源体系。测试团队可针对客户终端场景定制专项检测脚本，模拟设备真实运行负荷完成极限验证，从源头规避芯片长期使用过程中的隐性故障，以严苛、全面的检测标准，保障每一颗交付的存储芯片稳定可靠。